JFD－2010數(shù)字式局部放電測(cè)試系統(tǒng)是我們繼JF－8001（仿MODEL－5）、JF－8201、

JF－8601、JF－9801、JF－2002、JF-2007、JFD-2006等型號(hào)局部放電檢測(cè)儀后研制開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的全新的數(shù)字化儀器設(shè)備，它的采用高速集卡通道：同步4通道；采集卡最高采樣頻率：40MHz；高精度AD分辨率12bit，直流精度0.2%；采樣長(zhǎng)度4M樣點(diǎn)；它集成了信號(hào)調(diào)理、全軟件控制、數(shù)據(jù)分析等功能，是一套完整的局部放電試驗(yàn)系統(tǒng)。

1.1、*性：采用高速寬頻帶數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，放電波形還原顯示清晰，失真度小，配合時(shí)間窗的使用，可動(dòng)態(tài)放大顯示圖形細(xì)節(jié)；采用12位數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，結(jié)合連續(xù)、單次數(shù)據(jù)采集，測(cè)量精度與傳統(tǒng)模擬局放儀相比有了質(zhì)的提高。

1.2、繼承性：運(yùn)用虛擬儀器的概念，數(shù)字化全模擬傳統(tǒng)儀器的功能，

圖形顯示分為：橢圓、正弦、直線，放電相位顯示明確；

同步跟蹤顯示任意頻率的試驗(yàn)電源，放電相位顯示明確；

數(shù)控增益粗調(diào)、增益細(xì)調(diào)。數(shù)字模擬時(shí)間窗，可任意調(diào)節(jié)大小，動(dòng)態(tài)并可放大顯示細(xì)節(jié)。

1.3、可靠性：優(yōu)化了系統(tǒng)組成結(jié)構(gòu)，運(yùn)用模塊化、單元化設(shè)計(jì)技術(shù)，數(shù)字儀器各功能模塊單元明確。信號(hào)調(diào)理單元移用了我廠應(yīng)用了多年的經(jīng)典的調(diào)理電路，加上采用了高可靠性的數(shù)據(jù)采集卡，使得數(shù)字儀器的可靠性有了根本的保證。

1.4、安全性：系統(tǒng)采用了多參數(shù)報(bào)警保護(hù)措施，關(guān)鍵部位更采用軟、硬件雙重保護(hù)，靈敏度高，確保了整個(gè)試驗(yàn)系統(tǒng)的運(yùn)行安全。

2.1、什么是局部放電?

局部放電是指部分地橋接導(dǎo)體間絕緣的一種氣體放電，這種放電可能會(huì)，或者不會(huì)出現(xiàn)在導(dǎo)體的近旁。

通俗的說(shuō)是指設(shè)備絕緣系統(tǒng)中部分被擊穿的電氣放電，這種放電可以發(fā)生在導(dǎo)體(電極)附近，也可發(fā)生在其它位置 。

2.2、局部放電產(chǎn)生的原因

局部放電對(duì)于高壓電工產(chǎn)品往往是很難避免的，這是由于絕緣材料和絕緣結(jié)構(gòu)在制造過(guò)程中常會(huì)含有比固體絕緣容易擊穿的小氣泡或油膜，在電場(chǎng)的作用下，會(huì)產(chǎn)生內(nèi)部放電。絕緣材料和絕緣結(jié)構(gòu)中電場(chǎng)分布不均勻，也會(huì)產(chǎn)生局部放電（如針尖電極、電極表面上的毛刺、或者是金屬屑異物）。

2.3、局部放電的分類(lèi)

2.3.1、內(nèi)部放電：在介質(zhì)內(nèi)部或介質(zhì)與電極之間的放電。這種放電的特性與介質(zhì)的特性和氣屑的形狀、大小、位置以及氣屑中氣體的性質(zhì)有關(guān)。

2.3.2、表面局部放電：在沿介質(zhì)表面的電場(chǎng)強(qiáng)度達(dá)到擊穿場(chǎng)強(qiáng)時(shí)所發(fā)生的局部放電。在電機(jī)繞組、電纜、套管等絕緣結(jié)構(gòu)的端部，從導(dǎo)體到介質(zhì)表面經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)這種局部的放電。

2.3.3、電暈放電：在氣體中，高電壓導(dǎo)體周?chē)a(chǎn)生的局部放電稱(chēng)為電暈。如高壓傳輸線、高壓變壓器等高壓電氣設(shè)備，因高壓接線端暴露在空氣中，都有可能產(chǎn)生這種局部放電。

2.4、表征局部放電的參數(shù)：視在放電電荷，放電重復(fù)率，放電的能量，放電的平均電流，放電的均方率，放電功率，局部放電起始電壓，局部放電熄滅電壓。

2.5、視在放電量q

    是指在試品兩端注入一定電荷量，使試品端電壓的變化量和局部放電時(shí)端電壓變化量相同。此時(shí)注入的電荷量即稱(chēng)為局部放電的視在放電量，以皮庫(kù)(pC)表示。

    實(shí)際上，視在放電量與試品實(shí)際點(diǎn)的放電量并不相等，后者不能直接測(cè)得。試品放電引起的電流脈沖在測(cè)量阻抗端子上所產(chǎn)生的電壓波形可能不同于注入脈沖引起的波形，但通?？梢哉J(rèn)為這二個(gè)量在測(cè)量?jī)x器上讀到的響應(yīng)值相等。

2.6、國(guó)標(biāo)及IEC推薦的局放測(cè)量法─脈沖電流法(ERA)

高電壓設(shè)備局部放電時(shí)在試驗(yàn)回路中引起電荷轉(zhuǎn)移，產(chǎn)生高頻電流脈沖,其流過(guò)檢測(cè)阻抗產(chǎn)生電壓脈沖，將此電壓脈沖經(jīng)過(guò)合適帶寬的放大器放大后由儀器測(cè)量、顯示出來(lái)。

技術(shù)指標(biāo)

4.1、系統(tǒng)主要性能技術(shù)指標(biāo)

4.1.1、獨(dú)立、同步、4通道

4.1.2、最高采樣頻率 40MHz

4.1.3、數(shù)據(jù)分辨率12bit，直流精度0.2%

4.1.4、可測(cè)試品的電容量范圍6PF~250µF。

4.1.5、檢測(cè)靈敏度允許電流（見(jiàn)表一）：

表一、檢測(cè)靈敏度及輸入單元允許電流值。